耗散型石英晶體微天平的檢測技術和主要功能特色

更新時間：2021-04-15

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　　耗散型石英晶體微天平基于耗散因子檢測技術的界面跟蹤探測系統進行分子與界面相互作用的研究，工作時，先將芯片放置于流動池中，將流動池固定于樣品平臺上，樣品平臺與電子單元和電腦主機連接，樣品通過蠕動泵流經流動池中的芯片上方；

　　芯片振動狀態與芯片上方物質的改變量，包括質量，厚度，密度和柔軟程度有關，所以軟件通過數學分析的方法可以獲取芯片上方物質的這些變量。測定吸附層質量，并同步提供粘彈性等結構信息。

　　通過軟件設置，電子單元對芯片兩面施加一個電壓隨后斷開，芯片發生振動、產生電信號并傳輸回電子單元，振動的頻率和振幅記錄在軟件系統里；

　　當樣品流經芯片上方，有物質吸附在芯片上或者將芯片上的物質沖走時，都會改變芯片的振動狀態并被記錄下來。

　　可測定多種不同類型表面的分子相互作用和分子吸附行為，同時可檢測分子的結構變化以及吸附與解析的動態過程。

　　耗散型石英晶體微天平的主要功能特色：

　　(1)作為具有耗散因子檢測功能的二代石英晶體微量天平，可以對多種不同類型表面的分子相互作用和分子吸附進行研究，應用范圍包括蛋白質、脂質、聚電解質、高分子和細胞/細菌等與表面或與已吸附分子層之間的相互作用。

　　(2)可以測定非常薄的吸附層的質量，并同步提供如粘彈性等吸附層結構信息。非常靈敏和快速，可提供多個頻率和耗散因子數據，用于充分了解在傳感器表面吸附的分子的狀態。